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LUPHOScan 260光学测量系统亮相法兰克福展,一键校准引领革新

  • 2026-03-24 12:16:20
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在光学测量技术领域,一项创新产品正为高精度制造带来变革。LUPHOScan 260非接触式三维光学测量系统近日正式发布,其搭载的“自动对中与调平”功能成为最大亮点。该系统能够在约90秒内自动完成零件的对中与调平,彻底消除了传统测量中繁琐的手动操作和对操作员技能的依赖,将设置时间大幅缩短,为高效生产奠定了基础。

LUPHOScan 260光学测量系统亮相法兰克福展,一键校准引领革新

LUPHOScan 260的核心优势在于其“一键校准”能力。这一设计使得设备设置快速且独立于操作员个人经验,显著提升了测量的可重复性与效率。该系统具备广泛的测量能力,能够精确测量非球面、球面、自由曲面、环形光学元件、分段表面、轴棱镜、薄饼透镜以及衍射结构等多种复杂光学面形。通过结合快速设置与连续扫描技术,它实现了高通量的测量流程。其采用的MWLI®技术确保了全程聚焦的高精度数据采集,避免了拼接误差,为质量控制提供了可靠的数据基础。此外,该系统为自动化集成做好了充分准备,支持脚本编写、OPC UA通信协议以及经过工艺优化的流程,非常适用于自由曲面光学元件、高精度零部件和大批量生产场景。

LUPHOScan 260光学测量系统亮相法兰克福展,一键校准引领革新

与此同时,同场展示的Form Talysurf® PGI Optics PRO接触式轮廓仪,则代表了接触式测量精度的新高度。该设备采用专利的PGI技术,在面形和半径测量方面提供了顶级的精度表现。它尤其擅长处理非球面、球面、衍射面、自由曲面以及直径高达300毫米的大型透镜。PGI Optics PRO为客户带来的关键益处包括:得益于短测针PGI技术实现的卓越精度和重复性;通过自动寻峰、双面测量、尖峰去除及优化软件带来的更快测量周期;借助最新的PGI测头设计,能够测量大矢高透镜;通过电动Y轴、旋转台和引导式程序实现集成自动化;以及提供3D像散分析、非球面分析和逆向工程等高级分析功能。它是成像、光子学、红外及消费类光学产品制造的理想选择。

LUPHOScan 260光学测量系统亮相法兰克福展,一键校准引领革新

LUPHOScan 260与PGI Optics PRO共同构成了一个完整的光学计量生态系统。这一组合方案同时提供了接触式与非接触式两种测量手段,显著降低了对操作员的依赖程度。它们协同工作能够缩短生产周期并提高整体产出效率,同时保证了行业领先的测量精度和系统稳定性。配套的高级分析工具有助于改进产品设计、提升质量并优化工艺控制。从早期的研磨加工到最终成品检测,这套生态系统支持全制造流程的可靠测量,为实现更高产品良率和更优性能提供了坚实保障。

此次新产品发布恰逢Optatec 2026国际光学技术、组件及系统专业贸易博览会举办之际。该展会是光学技术领域的重要国际性活动,吸引了众多行业厂商与专业人士参与。AMETEK GmbH旗下泰勒霍普森业务单元借此平台向全球市场展示了其在精密计量领域的最新成果。这些创新设备的推出,预示着光学制造行业正朝着更高自动化程度、更高效率及更强过程控制能力的方向持续演进。

总体来看,以LUPHOScan 260为代表的下一代测量技术,通过将自动化与高精度深度融合,正在解决高端制造中长期存在的效率瓶颈与技术门槛问题。它不仅提升了单一环节的测量速度,更重要的是通过简化操作和集成自动化接口,使精密测量能够更无缝地融入现代化智能生产线之中。这对于满足日益增长的高性能光学元件市场需求,推动相关产业的技术升级具有积极意义。

随着光电产品在消费电子、汽车传感、医疗设备及工业激光等领域的应用不断深化和拓展,对核心光学部件的精度与产能要求也水涨船高。业界专家认为,此类能够兼顾“快”与“准”的计量解决方案将成为未来高端制造业不可或缺的基础设施。它们通过确保制造过程的可控性与可追溯性,为生产更复杂、性能更优异的光学系统产品提供了可能。

可以预见,以自动化校准和高通量为特征的智能计量技术将继续发展演变。制造商通过采用此类先进设备和技术方案,不仅能够提升自身的产品竞争力与市场响应速度,也将共同推动整个精密光学产业链向更高水平迈进。此次发布的新品正是这一发展趋势下的一个鲜明注脚

下届展会时间:2026年05月05号~05月07号

展会地点:德国 法兰克福

展会行业:光电

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